在透射電鏡中實時表征材料在加熱或加電條件下原子尺度結構及成分變化對于理解材料的熱學、電學性能以及微觀結構演化具有至關重要的意義。
透射電鏡雙傾光熱原位系統通過MEMS芯片和光纖引入的光源在原位樣品臺內構建熱、光復合多場自動控制及反饋測量系統，結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實現從納米甚至原子層面實時、動態監測樣品在真空環境下隨溫度、光場變化產生的微觀結構、相變、元素價態、微觀應力以及表/界面處的原子級結構和成分演化等關鍵信息。透射電鏡雙傾光熱原位系統具有優異的熱學性能：
1.高精密紅外測溫校正，微米級高分辨熱場測量及校準，確保溫度的準確性。
2.兩電極的超高頻控溫方式，排除導線和接觸電阻的影響，測量溫度和電學參數更準確。
3.采用高穩定性貴金屬加熱絲(非陶瓷材料)，既是熱導材料又是熱敏材料，其電阻與溫度有良好的線性關系，加熱區覆蓋整個觀測區域，升溫降溫速度快，熱場穩定且均勻，穩定狀態下溫度波動≤±0.01℃。
4.采用閉合回路高頻動態控制和反饋環境溫度的控溫方式，高頻反饋控制消除誤差，控溫精度±0.01 ℃。
5.多級復合加熱MEMS芯片設計，控制加熱過程熱擴散，極大抑制升溫過程的熱漂移，確保實驗的高效觀察。
6.加熱絲外部由氮化硅包覆，不與樣品發生反應，確保實驗的準確性。
