透射電鏡高溫力電原位系統具有優異的熱學性能！

　　透射電鏡高溫力電原位系統集成了力學測量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對樣品1000 ℃加熱的同時進行定量的力學測量。MEMS芯片模塊上可以選擇加熱芯片，也可以選擇電學測量芯片。力學測量模塊可以選擇不同載荷的傳感器，滿足不同實驗需求。實現了透射電鏡中高分辨定量原位高溫力學研究。

　　本公司提供的透射電鏡高溫力電原位系統有優異的熱學性能：

　　1.高精密紅外測溫校正，微米級高分辨熱場測量及校準，確保溫度的準確性。

　　2.兩電極的超高頻控溫方式，排除導線和接觸電阻的影響，測量溫度和電學參數更精確。

　　3.采用高穩定性貴金屬加熱絲(非陶瓷材料)，既是熱導材料又是熱敏材料，其電阻與溫度有良好的線性關系，加熱區覆蓋整個觀測區域，升溫降溫速度快，熱場穩定且均勻，穩定狀態下溫度波動≤±0.1℃。

　　4.采用閉合回路高頻動態控制和反饋環境溫度的控溫方式，高頻反饋控制消除誤差，控溫精度±0.01 ℃。

　　5.多級復合加熱MEMS芯片設計，控制加熱過程熱擴散，極大抑制升溫過程的熱漂移，確保實驗的高效觀察。