掃描電鏡高溫原位系統通過MEMS芯片對樣品施加熱場控制，在原位樣品臺內構建熱場自動控制及反饋測量系統，結合EDS、EBSD等多種不同模式，實現從納米甚至原子層面實時、動態監測樣品在真空環境下隨溫度變化產生的微觀結構、相變、元素價態、微觀應力以及表/界面處的原子級結構和成分演化等關鍵信息。應用：1、材料科學研究：用于研究材料在高溫下的力學性能、變形、斷裂等失效機制的微觀過程，為新材料的設計和優化提供重要支持。2、工程材料設計：通過實時觀察材料在不同應力條件下的微觀結構和變化過程...

透射電鏡液體光學原位系統有高分辨力，能夠清晰地顯示樣品的微觀結構，為科學研究提供有力的成像支持。可廣泛應用于電池、電化學沉積、納米晶生長、生物材料等領域的研究。通過該系統，科學家可以深入探究樣品在液體環境中的微觀結構和化學變化，為新材料的開發和性能優化提供有力的技術支持。超新芯提供的透射電鏡液體光學原位系統具有高安全性：1.市面常見的其他品牌液體樣品桿，由于受自身液體池芯片設計方案制約，只能通過液體泵產生的巨大壓力推動大流量液體流經樣品臺及芯片外圍區域，有液體大量泄露的安全隱...

多孔氮化硅TEM載網以高純單晶硅為基底，超薄氮化硅（10~50nm）為支撐膜。這種設計不僅確保了載網的高強度和穩定性，還使其具有優異的電子束穿透性和成像質量。多孔氮化硅TEM載網與傳統銅網相比，使用的超薄氮化硅膜不含碳元素，可有效避免積碳，尤其適合球差原子分辨表征。超薄氮化硅膜更耐酸耐高溫，適用于酸性條件下制備樣品，及1000攝氏度的高溫環境。具有耐電子束輻照，電子束穿透率高，成像背景均勻和噪音小等優點。可以在不同分析儀器間轉移分析，如TEM，AFM，XRD，EXAFS，Ra...

透射電鏡力電原位系統通過MEMS(微機電系統)芯片在原位樣品臺內構建力、電復合多場自動控制及反饋測量系統。該系統結合了多種透射電鏡(TEM)的分析模式，以實現對樣品在真空環境下隨電場、施加力變化產生的微觀結構、相變、元素價態、微觀應力以及表/界面處的結構和成分演化的實時監測，能夠為研究納米尺度材料及器件提供電學性能分析支撐。透射電鏡力電原位系統的應用如下：1.材料科學：用于研究材料的晶體結構、晶格缺陷、晶界和界面，以及材料的相變和相互作用。這對于新材料的開發與性能優化具有重要...

透射電鏡4孔樣品桿是一種在透射電子顯微鏡(TEM)中使用的關鍵部件，它允許研究人員同時將最多4個樣品置入透射電鏡中進行觀察和分析。與市面常見的3孔樣品桿相比，透射電鏡4孔樣品桿大幅提高了透射電鏡的使用效率。可實現透射電鏡內的光電測量或光譜學表征研究。透射電鏡4孔樣品桿的主要特點：1、高效性：可同時放置4個樣品，顯著提高實驗效率。2、高精度：采用超高精度的旋鈕換樣方式，幫助降低漂移率，提高成像質量。3、創新設計：創新的彈性銅片固定方式和超高精度旋鈕，進一步減小漂移，提升成像效果...