透射電鏡力電原位系統

簡要描述：透射電鏡力電原位系統通過MEMS芯片在原位樣品臺內構建力、電復合多場自動控制及反饋測量系統，結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實現從納米層面實時、動態監測樣品在真空環境下隨電場、施加力變化產生的微觀結構、相變、元素價態、微觀應力以及表/界面處的結構和成分演化等關鍵信息。

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廠商性質：生產廠家
更新時間：2023-12-27
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我們的優勢

力學性能

1．高精度壓電陶瓷驅動，納米級別精度數字化精確定位。

2．可進行壓縮、拉伸、彎曲等微觀力學性能測試。

3．nN級力學測量噪音。

4．具備連續的載荷-位移-時間數據實時自動收集功能。

5．具備恒定載荷、恒定位移、循環加載控制功能，適用于材料的蠕變特性、應力松弛、疲勞性能研究。

優異的電學性能

1．芯片表面的保護性涂層保證電學測量的低噪音和精確性，電流測量精度可達皮安級。

2．MEMS微加工特殊設計，電場和力學加載同時進行，相互獨立控制。

智能化軟件

1．人機分離，軟件遠程控制納米探針運動。

2．自動測量載荷-位移數據。

技術參數

類別	項目	參數
基本參數	桿身材質	高強度鈦合金
	控制方式	高精度壓電陶瓷
	傾轉角	α≥±20°，傾轉分辨率＜0.1°（實際范圍取決于透射電鏡和極靴型號）
	適用電鏡	Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi
	適用極靴	ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP 適用極靴
	(HR)TEM/STEM	支持
	(HR)EDS/EELS/SAED	支持

應用案例

圖片4.png 圖片5.png

鎢納米柱原位力學壓縮過程

鎢納米柱受力發生彈性形變過程中，彈性形變和塑性形變過程強度和塑性是結構材料應用的關鍵特征，位錯在調控材料強度和塑性的過程中扮演了重要角色，一般來說，位錯滑移越難，材料的強度就越大，而第二相常用來阻礙位錯運動以提高材料強度。例如，陶瓷相可以用于金屬強化，因為基體與第二相之間彈性模量的巨大差異和嚴重的界面失配能夠起到金屬材料強化的作用，遺憾的是硬的第二相一般是在犧牲延展性的條件下實現了強化作用。此外，界面處嚴重的位錯塞積可能會導致局部的應力集中，導致材料在服役過程中突然失效。從本質上講，既需要第二相阻止位錯的運動，還要一定程度上兼容位錯滑移的可塑性。通過原位力學測試，可以更方便研究材料界面應變場變化以達到優化復合材料的強度和塑性的目的。

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